Electrónica

Dr. Reydezel Torres Torres  

Investigador Titular "C"
INAOE
Investigador Nacional (SNI-II)

Correo Electrónico: reydezel@inaoep.mx

Oficina: 2102

Información Curricular:

Doctorado: INAOE (2003).
Título de Tesis: “Small-Signal Modeling of Bulk MOSFETs for High-Frequency Applications.”

Maestría: INAOE (2000).
Título de Tesis: “Método alternativo para la extracción de la longitud efectiva de canal y la resistencia serie de un TMOS LDD.”

Licenciatura: Instituto Tecnológico de Querétaro (1998).

Líneas de Investigación:

• Telecomunicaciones, electrónica de microondas, integridad de señales, redes de distribución de potencia.

 

Research Topics:

• Telecommunications, microwave engineering, signal integrity (SI), power delivery networks (PDN).

Proyectos:

• Enero 2023, en progreso (AMD): “Feasibility of embedded transmission lines for multi-gigahertz signaling.”

• Enero 2018 – Diciembre 2022 (CONACyT: Ciencia Básica):“Análisis de la propagación de radiación electromagnética de microondas guiada en materiales heterogéneos y anisótropos.”

• Enero 2014 (Isola Group):“Characterization, Modeling and Optimization of Dielectric Laminates for High-Speed PCBs.”

• Enero 2012 – Diciembre 2014 (CONACyT: Ciencia Básica):“Análisis del límite tecnológico impuesto por la rugosidad y la anisotropía de substratos dieléctricos en las interconexiones de microondas.”

• Enero  – Diciembre 2012 (Consolidación SNI):“Metodología para el análisis de las pérdidas en interconexiones utilizadas en sistemas electrónicos de alta velocidad.

• Enero 2009 – Diciembre 2011 (Intel):“Methodologies for Signal Integrity Analysis in Complex Chip-to-Chip Interconnection Channels.”

• Enero 2007 – Diciembre 2008 (Intel): “Addressing silicon innovation through characterization, modeling, analysis, and design of compact space and energy-efficient chip-to-chip signaling, on-die RFI scanning, and self-calibrated on-die temperature solutions for computing platforms”–HIGH SPEED SIGNALING SECTION.

 

Últimas Tesis Dirigidas:

Doctorado:

Dora Alejandra Chaparro Ortiz
Título de la tesis: Modelado y metodologías de caracterización de materiales dieléctricos para aplicaciones de microondas.
Fecha de examen: 18 de enero de 2024.

María Teresa Serrano Serrano.
Título de la tesis: Física y modelado de interconexiones en tecnología de circuito impreso considerando la atenuación y el retraso de fase debidos a la rugosidad superficial en conductores.
Fecha de examen: 1 de diciembre de 2023.

Eduardo Moctezuma Pascual.
Título de la tesis: Modelado físicamente fundamentado del comportamiento reactivo de materiales y dispositivos a partir de mediciones eléctricas en el rango de las microondas.
Fecha de examen: 29 de septiembre de 2022.

 

Maestría:

Juan Pablo Sánchez Muñoz
Título de la tesis: Medición de capacitancia dependiente de voltaje empleando un circuito para desacoplar estímulos de corriente continua y de baja frecuencia en un analizador de redes.
Fecha de examen: 14 de agosto de 2023.

Alan Yacceb Otero Carrascal
Título de la tesis: Modelado de una interfaz vertical para pruebas eléctricas de microondas.
Fecha de examen: 3 de septiembre de 2021.

Xiomara Ribero Figueroa
Título de la tesis: Análisis, modelado y extracción de parámetros de condensadores cerámicos multicapa utilizados en enlaces de alta velocidad para bloqueo de corriente continua.
Fecha de examen: 30 de agosto de 2021.

 

Publicaciones Recientes:

• J. P. Sánchez-Muñoz [estudiante de doctorado], S. C. Sejas-García, C. Nwachukwu, and R. Torres-Torres, “Determining the Permittivity of a Printed Circuit Board Dielectric Using Striplines Considering Copper Roughness,” IEEE Microwave and Wireless Technology Letters, in press, 2024.

• X. Ribero-Figueroa [estudiante de doctorado], A. Pacheco-Sanchez, T. J. Huang, D. Jiménez, I. Puchades, and R. Torres-Torres, “A Taylor Series Approximation Model for Characterizing the Output Resistance of a Graphene FET,” IEEE Transactions on Electron Devices, in press, 2024. 

• M. T. Serrano-Serrano [estudiante de doctorado] and R. Torres-Torres, “Causal Model Implementation for the Conductor Surface Roughness Effect on the Attenuation and Delay of Microstrip Lines,” IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, vol. 72, no. 1, pp. 64-73, January 2024.

• A. Otero-Carrascal [estudiante de doctorado], D. Chaparro-Ortiz [estudiante de doctorado], P. Srinivasan, O. Huerta, E. Gutiérrez-Domínguez, and R. Torres-Torres, “RC-Effects on the Oxide of SOI MOSFET under Off-State TDDB Degradation: RF Characterization and Modeling,” Micromachines, vol. 15, no. 2, 252, February 2024.

• J. P. Sánchez-Muñoz [estudiante de maestría] and R. Torres-Torres, “Characterization of Bias-Dependent Ceramic Capacitors From Reflection Coefficient Measurements Performed Using a VNA,” IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, vol. 66, no. 2, pp. 351-358, May 2024.

• R. S. Murphy-Arteaga, E. Colín-Beltran, M. T. Serrano-Serrano, C. Nwachukwu, S. C. Sejas-García, and R. Torres-Torres, “An Improved Method to Measure, Characterize, and Model Microstrip Antennas in the W Band,” IEEE Instrumentation and Measurement Magazine, vol. 27, no. 2, pp. 53-58, April 2024.

• M. T. Serrano-Serrano [estudiante de doctorado] and R. Torres-Torres, “Wave Impedance Determination for PCB Substrate Integrated Waveguides Considering Metal Roughness Loss Effects,” Micromachines, vol. 15, no. 7, 883, July 2024.

• G. Álvarez-Botero, E. Moctezuma-Pascual, M. A. G. Laso, and R. Torres-Torres, “Assessment of Performance of One-Turn Inductors in Series Configuration Through a Transmission-Line Modeling Approach,” IEEE Access, vol. 12, pp. 96404-96410, September 2024.

• X. Ribero-Figueroa [estudiante de doctorado], A. Pacheco-Sanchez, A. Mansouri, P. Kumar, O. Habibpour, H. Zirath, R. Sordan, F. Pasadas, D. Jiménez, and R. Torres-Torres, “Characterization of the Intrinsic and Extrinsic Resistances of a Microwave Graphene FET Under Zero Transconductance Conditions,” IEEE Transactions on Electron Devices, vol. 70, no. 11, pp. 5977-5982, November 2023. [Winner of the IEEE-R9 best student paper award, Electron Devices Society 2024].